研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD,粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器,物理按钮和软件双控,进行远位数调节,12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量,晶圆检测,金相材料,高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测,本机配备了偏振系统可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。
详细研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD,粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量,晶圆检测,金相材料,高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测,本机配备了偏振系统可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。
详细研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。
详细电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器,物理按钮和软件双控,进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。
详细3D超景深数码显微镜DMS1000是一款集电动化、数码化、智能化为一体,拥有全方位的观测角度和多种照明方式,其更大的景深、更宽的视野以及更高的放大倍率,让表面微观形貌观察和分析工作更快捷方便,搭载自主研发的图像处理算法,能够轻松应对各种观测应用场景,确保图像的清晰度和量测数据的准确性。
详细HD750显微镜是将传统的光学显微镜与数码成像系统结合在一起,350万像素超高清彩色图像传感器逐行扫描,具有成像清晰度高,色彩还原好、低噪点、高速动态画面无拖影等特点。HD750采用最新0.7-5X变倍镜头,成像更清晰,景深更大,高速30帧/秒,无拖影,高清细节呈现,显示高品质画面,内置SD卡,支持拍照、录像、回放。
详细MX8R三目明暗场微分干涉工业检测显微镜配置了落射与透射照明系统、明暗场半复消金相物镜、内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,造型美观,操作方便等特点,配备了高性能DIC组件,可以将明场观察下无法检测的细微高低差,转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕新式表现出来,广泛用于LCD导电粒子,精密磁盘表面划痕检测等领域
详细POL-900系列科研级偏光显微镜,专为实验室和教育领域的科研工作而设计,将实用性、舒适的操作和NIS45无限远光学系统进行了结合,可以进行单偏光、正交偏光、锥光观察,为您提供可信赖的、清晰的、高反差的图像。
详细POL1100双目简易偏光显微镜采用透射照明系统,配有简易偏光装置,性能可靠,成像清晰,操作方便。主要用于对各种透明的晶体、药物等具有偏光特性的物质进行观察和鉴定。
详细POL1500采用透射照明系统,主要用于对各种透明的晶体、岩石、矿物以及具有双折射的物质进行观察和鉴定,是地质、矿产等部门和相关高等院校最为常用专业实验仪器之一。也可用于纺织、化纤行业、医用单位对纺织纤维和药物进行检验。
详细POL1510主要针对不透明晶体进行观察的偏光显微镜,此系列偏光显微镜是利用晶体具有光学各向异性,但光线照射这些不透明晶体时会发生双折射现象的原理而研发的一款显微镜。
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