VM4800M 采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,仪器配有偏光装置可实现偏光观察同时可选配暗装置及微分干涉装置。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,电子芯片的检查或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。