金相显微镜
CM80BD研究级高分子材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
选型前建议核对样品、观察方式与成像接口。也可直接拨打 0512-62752246 沟通需求。
产品介绍
性能特点
1、采用无限远半复消明暗场光学系统；
2、配置了落射与透射两套照明系统，可观察透明及不透明材料；
3、配置了内置推拉式检偏器与起偏器，适合观察高反光材料的表面；
4、本机可选购干涉系统，做微分干涉观察获得具有浮雕效果的立体像；
5、本机采用高亮度5WLED照明，观察舒适使用寿命长，不发热。
显微镜参数
序号 | 名称 | 技术参数 |
|---|---|---|
1 | 平场目镜 | 正像大场高眼点目镜PL10X/25mm |
2 | 无限远长工作距明暗场半复消色差金相物镜5X NA0.15 WD14.35 无限远长工作距明暗场半复消色差金相物镜10X NA0.30 WD8.5 无限远长工作距明暗场半复消色差金相物镜20X NA0.40 WD10.8 无限远长工作距明暗场半复消色差金相物镜50X NA0.75 WD3.0 无限远长工作距明暗场半复消色差金相物镜100X NA0.90 WD1.0（选购） | |
3 | 光学放大倍数 | 50X-500X（选购100倍物镜后放大倍数50-1000X） |
4 | 数码放大倍数 | |
5 | 观察头 | 铰链三通观察筒，瞳距调节：50mm~76mm，两档分光比双目:三目=100：0 |
6 | 转换器 | 5孔明场物镜转换器（带DIC插槽）. |
7 | 调焦机构 | 透反射用机架, 低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程35mm,微调精度0.001mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。内置100-240V宽电压系统，采用数字调光，具有光强设定与复位功能 |
8 | 8英寸平台，平台面积 525*330mm，移动行程：210mmX210mm机械平台，X、Y方向同轴调节；含快速移动装置 | |
9 | 偏光组件 | 起偏镜插板，360°旋转式检偏镜插板 |
10 | 反射照明系统 | 明暗场反射照明器，带可变孔径光阑，视场光阑，中心可调，带滤色片插槽，带起偏镜/检偏镜插槽，5W可调LED灯室，预定中心 |
11 | 透射照明系统 | 5W可调LED灯室，透、反射通用，预定中心 |
12 | 聚光镜 | 摇出式消色差聚光镜（N.A.0.9） |
13 | 摄像接口 | 0.65倍专用摄像接口 |
14 | 干涉组件 | 微分干涉板（选购） |
15 | ||
16 | 拍照，录像，测量，实时图像拼接，景深融合等（选购） | |
17 | 标尺 | 高精度型测微尺，格值0.01m 总长1mm（选购） |
18 | 晶圆转台 | 8寸通用晶圆转台兼容6/4寸（选购） |
