应用方案
FFS三维面型检测系统
FM-FFS自由曲面三维面型检测系统可自由曲面反射镜及其它光学元件表面的光学非接触、全场 3D 轮廓测量。测量过程简单,无需精密调整样品姿态, 单件测量时间一般小于 20 秒;检测效率远远优于三坐标和 UA3P 等接触式三维检测设备,适合用于自由曲面光学面的全检。
应用与配置参考
共 16 项解决方案
应用方案
FM-FFS自由曲面三维面型检测系统可自由曲面反射镜及其它光学元件表面的光学非接触、全场 3D 轮廓测量。测量过程简单,无需精密调整样品姿态, 单件测量时间一般小于 20 秒;检测效率远远优于三坐标和 UA3P 等接触式三维检测设备,适合用于自由曲面光学面的全检。
应用方案
CL-CM40BD自动清洁度颗粒污染分析设备是采用光学显微镜测定颗粒清洁度、颗粒污染度的专业仪器。高精度电动平台,自动化分析软件,高清图像扫描相机,具有自动化高、工作流程化设计模式,操作简便,采集图像快速高效,无缝拼接浏览,智能识别统计,按照选择标准生成结果及报告。针对在制造和装配过程中的颗粒污染物残留,检查电路板电子元件、检测航空航天部件、汽车零部件、食品加工设备和环境中的微生物和残留物。也适用于油品清洁度检测,润滑油清洁度颗粒检测,乳化液清洁度检测,防冻液清洁度检测颗粒检测。
当前展示第 13–16 项;具体适配条件与配置,请结合样品和应用需求确认。
从应用需求出发
告诉我们样品材质、观察或测量目的,以及是否需要拍照,便于核对适合的仪器和配置。