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VMS818数码视频体视显微镜75X-135X连续变倍

VMS818数码视频体视显微镜75X-135X连续变倍

VMS818体视显微镜的光学系统均采用了多层镀膜的高性能光学透镜,0.75X-13.5X的变倍物镜配合全新设计的IXPLAN APO大物镜,变焦倍率比达到1:18,在10X目镜下能够实现75X-135X的变倍范围,让您既可以在低放大倍率下进行高质量的整体观察,又可以快速放大以进行微米级的细节观察。观察高、厚、不规则样品。

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MX8R系列DIC微分干涉金相显微镜工业检测显微镜

MX8R系列DIC微分干涉金相显微镜工业检测显微镜

MX8R三目明暗场微分干涉工业检测显微镜配置了落射与透射照明系统、明暗场半复消金相物镜、内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,造型美观,操作方便等特点,配备了高性能DIC组件,可以将明场观察下无法检测的细微高低差,转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕新式表现出来,广泛用于LCD导电粒子,精密磁盘表面划痕检测等领域

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HD750单筒连续变倍体视显微镜

HD750单筒连续变倍体视显微镜

HD750显微镜是将传统的光学显微镜与数码成像系统结合在一起,350万像素超高清彩色图像传感器逐行扫描,具有成像清晰度高,色彩还原好、低噪点、高速动态画面无拖影等特点。HD750采用最新0.7-5X变倍镜头,成像更清晰,景深更大,高速30帧/秒,无拖影,高清细节呈现,显示高品质画面,内置SD卡,支持拍照、录像、回放。

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VMS850A三目连续变倍体视显微镜

VMS850A三目连续变倍体视显微镜

VMS850A三目连续变倍体视显微镜具有先进的镀膜技术,观察时具有很好的亮度和衬度,以满足对透明封装后的芯片特殊检测标准的使用要求。 具有高分辨率,高清晰度和强立体感等特点。适用于电子线路板、芯片封装、珠宝鉴定、研相矿本分析、微小精密零件品质控制、装配、公安、银行痕迹对比、教学示范、临床手术样本、农业选种,纺织品检验、养殖业品种优选、病理分析。可配摄影摄像装置,连接电脑进行观察,并可对图像进行编辑、保存、打印、输出等操作。

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VM2200M 三目电脑型正置金相显微镜

VM2200M 三目电脑型正置金相显微镜

VM2200M适用于对不透明物体进行显微观察,本仪器配置落射照明器、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,操作方便等特点,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

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VMS300A三目连续变倍体视显微镜

VMS300A三目连续变倍体视显微镜

VMS300A三目连续变倍体视显微镜是目前国内少有的高倍立体显微镜,先进的镀膜技术,观察时具有极好的亮度和衬度,以满足对透明封装后的芯片特殊检测标准的使用要求。 具有高分辨率,高清晰度和强立体感等特点。

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VMS260A三目连续变倍体视显微镜

VMS260A三目连续变倍体视显微镜

VMS260A配备了高眼点大视野目镜,物镜可连续变倍。具有视场宽广,分辨率高,立体感强,成像清晰等特点。广泛用于教学示范、生物解剖、农林业的种子检查筛选、公安部门的刑侦检测,电子精密部件装配检修,纺织业的品质控制、文物 邮票的辅助鉴别及各种物质表面观察。

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VMS300双目连续变倍体视显微镜

VMS300双目连续变倍体视显微镜

VMS300是目前国内少有的高倍立体显微镜,先进的镀膜技术,观察时具有极好的亮度和衬度,以满足 对透明封装后的芯片特殊检测标准的使用要求。 具有高分辨率,高清晰度和强立体感等特点。

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VMS260双目连续变倍体视显微镜

VMS260双目连续变倍体视显微镜

VMS260配备了高眼点大视野目镜,物镜可连续变倍。具有视场宽广,分辨率高,立体感强,成像清晰等特点。广泛用于教学示范、生物解剖、农林业的种子检查筛选、公安部门的刑侦检测,电子精密部件装配检修,纺织业的品质控制、文物 邮票的辅助鉴别及各种物质表面观察。

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VMB2000A电脑型三目生物显微镜,配置平场消色差物镜和大视野目镜

VMB2000A电脑型三目生物显微镜,配置平场消色差物镜和大视野目镜

VMB2000A配置平场消色差物镜和大视野目镜,具有成像清晰,视野广阔,操作方便等特点,可广泛应用于教学实验,医院常规化验,农、林、渔、养殖业,生物细菌观察以及各类纤维,粉末颗粒, 液体中各类微小物体,管材炭黑,化工化妆产品等观察使用,是科研、医学、工业、农业等领域理想仪器。

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VM1000I 倒置金相显微镜

VM1000I 倒置金相显微镜

VM1000I 型单目倒置金相显微镜可用来鉴别和分析各种金属材料的组织结构,以及对表面喷涂、裂纹现象进行研究工作。广泛应用于工厂实验室和教学及科学领域。

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VM4800M 大平台金相显微镜

VM4800M 大平台金相显微镜

VM4800M 采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,仪器配有偏光装置可实现偏光观察同时可选配暗装置及微分干涉装置。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,电子芯片的检查或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

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