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VM5000M 工业检测显微镜

VM5000M 工业检测显微镜

VM5000M适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统。仪器配有偏光装置可实现普通与偏光观察的自由切换,模块化功能设计理念,可方便升级系统进行暗场观察等功能。

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VM2200M 三目电脑型正置金相显微镜

VM2200M 三目电脑型正置金相显微镜

VM2200M适用于对不透明物体进行显微观察,本仪器配置落射照明器、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,操作方便等特点,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

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VM500P便携金相显微镜

VM500P便携金相显微镜

VM500P便携金相显微镜可用于现场鉴定无法制作金相试样时的金属及合金的组织结构,广泛应用于现场对金属材料作金相分析及大型金属工件的金相组织检查。

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VM500C便携金相显微镜

VM500C便携金相显微镜

VM500C是新型的便携式金相显微镜。它在功能上比原有的便携式金相显微镜增加了物镜转换器和微调机构。仪器机身机构重心稳定,确保显微镜的精度像质清晰,视场明亮均匀,观察合适。仪器的上部目镜筒也可安装数码相机、CCD 摄像头、数字摄像头进行金相图片的采集。

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BJ-D便携式现场数码金相显微镜

BJ-D便携式现场数码金相显微镜

BJ-D现场金相显微镜,适用于大型工件的现场金相检验与失效分析。不用切割取样,直接在工件上研磨制样、观察、照像。对工件尤其是成品件不产生损伤。提高金属检验效率、完善工厂产品质量控制。同时也可用于实验室金相观察。本仪器可选购配置CCD相机、WIFI无线相机、电子目镜、金相软件,可方便采集、保存、输入现场的图像进行分析研究。

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BJX-1000现场金相检验显微镜

BJX-1000现场金相检验显微镜

BJX-1000现场金相显微镜,适用于大型工件的现场金相检验与失效分析。不用切割取样,直接在工件上研磨制样、观察、照像。对工件尤其是成品件不产生损伤。提高金属检验效率、完善工厂产品质量控制。同时也可用于实验室金相观察。本仪器可选购配置CCD相机、WIFI无线相机、电子目镜、金相软件,可方便采集、保存、输入现场的图像进行分析研究。

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BJX-2000便携式现场金相观察显微镜

BJX-2000便携式现场金相观察显微镜

BJX-2000现场金相显微镜,适用于大型工件的现场金相检验与失效分析。不用切割取样,直接在工件上研磨制样、观察、照像。对工件尤其是成品件不产生损伤。提高金属检验效率、完善工厂产品质量控制。同时也可用于实验室金相观察。

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MX8R系列DIC微分干涉金相显微镜工业检测显微镜

MX8R系列DIC微分干涉金相显微镜工业检测显微镜

MX8R三目明暗场微分干涉工业检测显微镜配置了落射与透射照明系统、明暗场半复消金相物镜、内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,造型美观,操作方便等特点,配备了高性能DIC组件,可以将明场观察下无法检测的细微高低差,转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕新式表现出来,广泛用于LCD导电粒子,精密磁盘表面划痕检测等领域

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CMY-290三目透反射正置金相显微镜

CMY-290三目透反射正置金相显微镜

三目透反射正置金相显微镜CMY-290配置了透射、落射照明装置,既可以观察金属材料的金相组织结构,也可以观察半透明,甚至不透明的生物标本。采用了无限远长工作距平场消色差金相物镜和大视野目镜,具有成像清晰,视野广阔,操作方便等特点。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

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VM3500M科研级透反射金相显微镜内定位5孔明场编码转换器

VM3500M科研级透反射金相显微镜内定位5孔明场编码转换器

科研级三目正置透反射金相显微镜VM3500M采用优质的无限远色差校正光学系统,全新设计的一体化T型机架,全金属高压模铸而成,稳定性强,高倍观察时像面无抖动,确保高倍测量的检测精度。内置明场、偏光观察功能,单颗10W LED暖白光照明图像高亮度、高分辨率、正色还原。适合观察金相试样分析,工业检测电子芯片等样品。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

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CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜

CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜

电动研究级材料检测显微镜CM40BD-AF采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器,物理按钮和软件双控,进行远位数调节。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

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CM40BD研究级材料检测显微镜

CM40BD研究级材料检测显微镜

研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

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CM60BD-AF电动研究及金相显微镜晶圆检测半导体FPD检查

CM60BD-AF电动研究及金相显微镜晶圆检测半导体FPD检查

电动研究级材料检测显微镜CM60BD-AF采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器,物理按钮和软件双控,进行远位数调节。6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

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CM60BD研究级金相材料检测显微镜

CM60BD研究级金相材料检测显微镜

研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

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CM80BD-AF电动研究级金相显微镜晶圆检测半导体FPD检查

CM80BD-AF电动研究级金相显微镜晶圆检测半导体FPD检查

电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器,物理按钮和软件双控,进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

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CM80BD研究级高分子材料检测显微镜

CM80BD研究级高分子材料检测显微镜

研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

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VMS100 双目定档体视显微镜

VMS100 双目定档体视显微镜

VMS100配有大视场目镜,立体感强。定档定倍,放大倍数可自行选择,超长的工作距离达140mm,为使用者提供更大的工作空间,使用高眼点广角目镜,为佩戴眼睛的观察者提供方便。

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VMS105 双目连续变倍体视显微镜

VMS105 双目连续变倍体视显微镜

VMS105 配备优质的光学系统和耐用可靠的操作机构。该机型工作距离长,视野清晰范围大,附件齐全操作方便。可广泛应用于医疗卫生,农林地质,电子精密机械等行业和部门,特别适合于LED、PCB检验、冲压电镀检验、电子元件检验等等。

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VMS135双目连续变倍体视显微镜

VMS135双目连续变倍体视显微镜

VMS135双目连续变倍体视显微镜采用LED上下光源,具有高分辨率,高清晰度和强立体感等特点,并且可连续变倍。光学系统左右光路分开,转像棱镜使物体成正像,符合人的生理习惯。

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VMS136双目连续变倍体视显微镜

VMS136双目连续变倍体视显微镜

VMS136配置了高眼点大视野目镜,物镜可连续变倍。具有视场宽广,分辨率高,立体感强,成像清晰等特点。

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VMS155双目万向支架体视显微镜

VMS155双目万向支架体视显微镜

VMS155双目万向连续变倍体视显微镜配有万向支架,可扩大操作范围,任意方向任意角度观察物体观察不受限制,具有高分辨率,高清晰度和强立体感等特点。广泛用于教学示范、医学手术、生物解剖、种子检查筛选、刑侦检测、电子精密部件装配检修、纺织业的品质控制、文物邮票的辅助鉴别及各种物质表面观察。

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VMS165双目双臂万向支架体视显微镜

VMS165双目双臂万向支架体视显微镜

VMS165配有万向支架,可扩大操作范围,任意方向任意角度观察物体。该显微镜具有视场宽,分辨率高,立体感强等特点,可连续变倍。广泛用于电子精密部件装配检修、教学示范、生物解剖、医学手术实验、文物邮票辅助鉴别及各种物质表面观察等。

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VMS220双目连续变倍体视显微镜

VMS220双目连续变倍体视显微镜

VMS220双目连续变倍体视显微镜配置了高眼点大视野目镜,物镜可连续变倍。具有视场宽广,分辨率高,立体感强,成像清晰等特点。广泛用于教学示范、生物解剖、农林业的种子检查筛选、公安部门的刑侦检测,电子精密部件装配检修,纺织业的品质控制、文物 邮票的辅助鉴别及各种物质表面观察。

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VMS260双目连续变倍体视显微镜

VMS260双目连续变倍体视显微镜

VMS260配备了高眼点大视野目镜,物镜可连续变倍。具有视场宽广,分辨率高,立体感强,成像清晰等特点。广泛用于教学示范、生物解剖、农林业的种子检查筛选、公安部门的刑侦检测,电子精密部件装配检修,纺织业的品质控制、文物 邮票的辅助鉴别及各种物质表面观察。

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