Z轴电动手脉工业测量显微镜CMM-2010D

Z轴电动手脉工业测量显微镜CMM-2010D是本司新推广出的Z轴电动手脉工业测量显微镜，使用专业订制的高精准细分脉冲工业测量电机，通过设置多种脉冲细分量和机构上的精准调校，可以实现快中慢三档调速来控制Z轴光学镜头上下移动；而在选择低速档时，我们让电机脉冲量的最小化设置跟传动机构的最优化调校，可以保证Z轴上下移动时，精细到1µm（甚至更低的分辨率）每格（手脉刻度），而有效地杜绝了了目前市场上主流工业测量显微镜在高倍率使用下的通病不再发生（高倍下无法定准对焦面，使用手动Z轴调焦齿轮打滑等等现象！）

CMM-2020D系列Z轴电动手脉工业测量显微镜

本司最新推广出的Z轴电动手脉工业测量显微镜，独家使用专业订制的高精准细分脉衝工业测量电机，通过设置多种脉衝细分量和机构上的精准调校，可以实现快中慢三档调速来控制Z轴光学镜头上下移动；而在选择低速档时，我们让电机脉衝量的最小化设置跟传动机构的最优化调校，可以保证Z轴上下移动时，精细到1µM（甚至更低的解析度）每格（手脉刻度），而有效地杜绝了了目前市场上主流工业测量显微镜在高倍率使用下的通病不再发生（高倍下无法定准对焦面，使用手动Z轴调焦齿轮打滑等等现象！）

Z轴电动手脉工业测量显微镜CMM-3020D

本司新推广出的Z轴电动手脉工业测量显微镜，使用专业订制的高精准细分脉冲工业测量电机，通过设置多种脉冲细分量和机构上的精准调校，可以实现快中慢三档调速来控制Z轴光学镜头上下移动；而在选择低速档时，我们让电机脉冲量的最小化设置跟传动机构的优化调校，可以保证Z轴上下移动时，精细到1µm（甚至更低的分辨率）每格（手脉刻度），而有效地杜绝了了目前市场上主流工业测量显微镜在高倍率使用下的通病不再发生（高倍下无法定准对焦面，使用手动Z轴调焦齿轮打滑等等现象！）

Z轴电动手脉工业测量显微镜CMM-3030D

本司新推广出的Z轴电动手脉工业测量显微镜CMM-3030D，以测量为目的各种精密加工业，是计量室、实验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。使用专业订制的高精准细分脉冲工业测量电机，通过设置多种脉冲细分量和机构上的精准调校，可以实现快中慢三档调速来控制Z轴光学镜头上下移动； 而在选择低速档时，我们让电机脉冲量的最小化设置跟传动机构的优化调校，可以保证Z轴上下移动时，精细到1UM（甚至更低的分辨率）每格（手脉刻度），而有效地杜绝了了目前市场上主流工业测量显微镜在高倍率使用下的通病不再发生（高倍下无法定准对焦面，使用手动Z轴调焦齿轮打滑等等现象！）

Z轴电动手脉工业测量显微镜CMM-3030D(明暗场物镜)大理石台面

Z轴电动手脉工业测量显微镜CMM-3030D(明暗场物镜)大理石台面使用专业订制的高精准细分脉冲工业测量电机，通过设置多种脉冲细分量和机构上的精准调校，可以实现快中慢三档调速来控制Z轴光学镜头上下移动；而在选择低速档时，我们让电机脉冲量的最小化设置跟传动机构的优化调校，可以保证Z轴上下移动时，精细到1UM（甚至更低的分辨率）每格（手脉刻度），而有效地杜绝了了目前市场上主流工业测量显微镜在高倍率使用下的通病不再发生（高倍下无法定准对焦面，使用手动Z轴调焦齿轮打滑等等现象！）

大理石台面Z轴电动手脉工业测量显微镜CMM-4030DD

大理石台面Z轴电动手脉工业测量显微镜CMM-4030DD使用专业订制的高精准细分脉冲工业测量电机，通过设置多种脉冲细分量和机构上的精准调校，可以实现快中慢三档调速来控制Z轴光学镜头上下移动； 而在选择低速档时，我们让电机脉冲量的最小化设置跟传动机构的优化调校，可以保证Z轴上下移动时，精细到1µM（甚至更低的分辨率）每格（手脉刻度），而有效地杜绝了了目前市场上主流工业测量显微镜在高倍率使用下的通病不再发生（高倍下无法定准对焦面，使用手动Z轴调焦齿轮打滑等等现象！）

CMD-3020M工具测量显微镜

CMD-3020M系列工具显微镜，是一种集软件、光、机、电一体的高精度、高效率的显微测量仪器，是同时具有高精度线性测量和观察功能的多功能量测仪器； 本机主体机构通过搭配MT三目光学测量镜筒、高清数字相机、照明装置、升降机构及对焦机构，具有多种数据测量、显微放大、显示输入和输出等数据处理功能。

CMD-2010M工具测量显微镜

CMD系列工具显微镜，是一种集软件、光、机、电一体的高精度、高效率的显微测量仪器，是同时具有高精度线性测量和观察功能的多功能量测仪器； CMD-2010M主体机构通过搭配MT三目光学测量镜筒、高清数字相机、照明装置、升降机构及对焦机构，具有多种数据测量、显微放大、显示输入和输出等数据处理功能。

手动測量显微鏡CMH-3020C

手动測量显微鏡CMH-3020C系列是一種集軟體、光、機、電一體的高精度、高效率的顯微測量儀器；◆測量顯微鏡系列是觀察、測量和處理系統化的顯微鏡陣容;◆測量顯微鏡可以作為觀察顯微鏡，用相對量測法檢查工件表面形狀等非接觸測量為目的各種精密加工業，是計量室、實驗室以及生產車間不可缺少的計量檢測設備之一。

手动测量显微镜CMH-2010C

手动测量显微镜CMH-2010C系列是一种集软件、光、机、电一体的高精度、高效率的显微测量仪器，是观察、测量和处理系统化的显微镜阵容，可以作为观察显微镜，用相对量测法检查工件表面形状等非接触测量为目的各种精密加工业，是计量室、实验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。

显微镜测微尺

显微镜目镜测微尺(C1、C2、C3、C4、C5、C7)

景通仪器目镜测微尺一览。

显微镜目镜分划尺（十字分化尺,测量线,侧十字线,指示箭头...）

景通仪器显微镜目镜分划尺产品一览,十字分化尺,测量线,侧十字线,指示箭头...

POL1100 双目偏光显微镜

POL1100双目简易偏光显微镜采用透射照明系统，配有简易偏光装置，性能可靠，成像清晰，操作方便。主要用于对各种透明的晶体、药物等具有偏光特性的物质进行观察和鉴定。

POL1200 三目电脑型偏光显微镜

POL1200采用透射照明系统，配有简易偏光装置，性能可靠，成像清晰，操作方便。主要用于对各种透明的晶体、药物等具有偏光特性的物质进行观察和鉴定。

POL1500 三目透射偏光显微镜

POL1500采用透射照明系统，主要用于对各种透明的晶体、岩石、矿物以及具有双折射的物质进行观察和鉴定，是地质、矿产等部门和相关高等院校最为常用专业实验仪器之一。也可用于纺织、化纤行业、医用单位对纺织纤维和药物进行检验。

POL1510 三目落射偏光显微镜

POL1510主要针对不透明晶体进行观察的偏光显微镜，此系列偏光显微镜是利用晶体具有光学各向异性，但光线照射这些不透明晶体时会发生双折射现象的原理而研发的一款显微镜。

POL1520 三目透反射偏光显微镜

POL1520是利用晶体具有光学各向异性，光线透过这些透明晶体时会发生双折射现象的原理而研发的一款显微镜，主要用于对各种透明的晶体、岩石、矿物以及具有双折射的物质进行观察和鉴定，是药理学、地质学和机械、冶金等部门用来研究结晶、矿物、岩石和金相组织的重要工具。

POL1600 科研用三目透射偏光显微镜

POL1600采用透射照明系统，配置有石膏入、云母1/4入试片、石英楔子和移动尺等附件，是一组具有完备功能和良好品质的偏光显微镜。

POL1800 科研用三目透射偏光显微镜

POL1800采用优良的无限远光学系统和透射照明系统，配置有石膏入、云母1/4入试片、石英楔子和移动尺等附件，可供广大用户进行透射单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。具有造型美观，视野宽阔，成像清晰，操作方便等特点。

POL1810 科研用三目透反射偏光显微镜

POL1810采用优质的无限远光学系统和透反射两套照明系统，既可以观察透明的物体，也可以观察不透明度物体。配置有石膏入试片、云母1/4入试片、石英楔子等附件，是一组具有完备功能和良好品质的偏光显微镜。

VMC40C比较显微镜

VMC40C比较显微镜是通过光学放大，由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像，运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰，分辨率高，因此可鉴别其微小差异。

VMC50B比较显微镜,刑侦鉴别显微镜

VMC50B比较显微镜是通过光学放大，由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像，运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰，分辨率高，因此可鉴别其微小差异。

VMC50C比较显微镜_公安、检查、法院文检、痕检显微镜

VMC50C比较显微镜是通过光学放大，由同一组目镜同时观察左右两物方视场物体的像，运用视场切割对接、重叠对两个或两个以上物体进行宏观或微观比较。由于成像清晰，分辨率高，因此可鉴别其微小差异。