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VMS207A体视显微镜光源可调6.7-45倍手机维修斑马鱼线虫研究
VMS207A三目双侧光源体视显微镜采用LED上下光源，具有高分辨率，高清晰度和强立体感等特点，放大倍数6.7-45X，变倍连续可调，操作简单、使用方便；双侧LED光源角度可任意调节，LED底光源，光亮柔和，可观察不透明、半透明和透明物体。
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VMS206A体视显微镜双侧光源可调6.5-55倍电路板手机维修解剖镜
VMS206A三目双侧光源体视显微镜配置了高眼点大视野目镜，物镜可连续变倍。具有视场宽广，分辨率高，立体感强，放大倍数6.5-55X，变倍连续可调，操作简单、使用方便；双侧LED光源角度可任意调节，LED底光源，光亮柔和，可观察不透明、半透明和透明物体。
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VMS205A体视显微镜双侧光源可调角度高清立体看反光零件手机维修
VMS205A三目双侧光源体视显微镜采用LED上下光源，具有高分辨率，高清晰度和强立体感等特点，放大倍数连续可调7-45倍，最高可达3.5-180倍；双侧LED光源角度可任意调节，LED底光源，光亮柔和，可观察不透明、半透明和透明物体。
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VMS645A体视显微镜6.7-45连续变倍
VMS645A三目大平板连续变倍体视显微镜配备优质的光学系统和耐用可靠的操作机构。该机型工作距离长，视野清晰范围大，附件齐全操作方便。同时增加了倍率定格功能，让观察更加精确、实用。可广泛应用于医疗卫生，农林地质，电子精密机械等行业和部门，特别适合于LED、PCB检验、冲压电镀检验、电子元件检验等等。同时也适用于生物解剖及昆虫的宏观观察。
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VM2400I编码型倒置金相显微镜带亮度记忆
三目倒置编码金相显微镜VM2400I配置长距明场平场消色差物镜与大视野平场目镜，照明系统采用LED照明方式，视场照明均匀。主要用于鉴定和分析金属内部结构组织，或用于观察材料表面的某些特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等，简单便于理解操作。应用在工厂、实验室和教学及科学领域，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。可观察5公斤以下不规则样品或者大体积高度样品，可选配数码相机成像、可与金相分析软件配合根据试样特性国标出金相分析报告。
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HVS-16V专业级4K自动对焦大视野显微镜
HVS-16V电动连续变倍自动对焦数码显微镜采用Sony IMX415 1/2.8” 4K Starvis CMOS，信噪比高。高效、灵活的显微观察工具，其自动化程度高，能够大大提高观察和分析的效率。具有自动对焦、大视野范围、传输率快特点，测量、拍照、录像等图片处理功能。适合应用于医疗卫生，农林地质，电子精密机械等工业行业和部门，特别适合于LED、PCB检验、冲压电镀检验、电子元件检验等等，用于生物解剖及昆虫的宏观观察。
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TZ650E专业同轴光测量显微镜
TZ650E视频连续变倍同轴光显微镜采用平行光路光学系统，使用点光源以确保光线的平行性，平行光路配合无限远物镜有助于获得清晰的显微图像。搭配索尼芯片1200万像素相机，USB3.0接电脑输出可测量拍照录像等图片分析（可以根据需求选配HDMI、USB、WiFi、网口输出的相机）。设备小巧便捷可以根据现场要求定制不同的观测工作方式，适用于材料科学金属和合金分析、聚合物研究；电子行业半导体制造、光学元件检测；教育与研究。
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VMS303CD万向熔深显微镜焊缝检测
VMS303CD是一种chao长工作距离（80~230mm）、图像清晰锐利的立体显微镜。 标准设备为wf10倍目镜和1倍物镜。 左目镜瞳距调整55~75mm。 该显微镜的底座是可调节的磁性底座和灵活的手臂，为360°方向。
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ATE-25DM高清视频一体3D电子显微镜
ATE-25DM高清2D/3D视频电子显微镜基于无限远光学系统，0.6-5.0X 连续变倍主体，0.5X C接口，工作距离86mm。与11.6寸一体式显示屏连接，高清1920*1080分辨率，操作方便可拍照录像测量，存储在U盘，无需电脑。可广泛应用于微电子、精密电子、精密五金件、深孔壁、生命科学、动植物形态、刑侦鉴定等等行业。
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CM120BD-AF研究级电动12寸大平台半导体芯片晶圆LCD检查金相显微镜
研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节，12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM120BD研究级12寸大平台金相显微镜硅片半导体检测
研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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