营业时间：周一至周五 9:00–17:00（节假日另行通知）

选型咨询 · 手机 / 微信18115601589 18913533344 微信扫码

金相显微镜|微分干涉金相显微镜|大平台实验室金相显微镜

金相显微镜厂家直供，有各类正置金相显微镜、倒置金相显微镜、三目数码金相显微镜、微分干涉金相显微镜、便携式金相显微镜、实验室金相显微镜可供选择，不管您在无锡、上海、南京、重庆、广州、深圳我们都能为您服务，专业金相显微镜供应商，出口品质，远销欧美。

共 37 款产品

排序

金相显微镜

SWIRM系列短波红外显微镜

SWIRM系列短波红外显微镜是专为900–1700nm短波红外波段设计的显微成像设备，采用无限远校正光学系统，配备SWIR专用平场复消色差物镜（5×/10×/20×/50×可选，数值孔径0.14–0.65，工作距离10–37.5mm），搭配高功率LED同轴落射照明（波长1200/1300/1400/1550nm可选）及SWIR短波红外相机（33-500万像素，帧率61.9-753fps，支持视频模式和触发模式），可实现硅片内部缺陷检测、材料穿透成像等半导体制造、材料科学与工业检测场景领域。

光学系统：无限远

金相显微镜

VM3400I数码明暗场倒置金相显微镜带液晶屏幕

科研级三目倒置电子金相显微镜VM3400I采用无限远半复消色差光学系统45mm焦距管径。多种观察方式：明场、暗场、偏振光，可选配微分干涉。紧凑稳定的高刚性主体满足显微镜操作的防振，符合人机工程学要求的理想设计，使操作方便舒适，空间广阔。

光学系统：无限远

金相显微镜

TZ660E全高清复消色差视频同轴光显微镜

同轴光显微镜采用全高清4K复消色差连续变倍光学镜头，消除了色差和球差，在整个视场内都能获得高对比度、高分辨率的图像。适用于彩色成像和高灵敏度单色成像，复消色差连续变倍镜头搭配索尼芯片1200万像素相机，USB3.0接电脑输出可测量拍照录像等图片分析（可以根据需求选配HDMI、USB、WiFi、网口输出的相机）。设备小巧便捷可以根据现场要求定制不同的观测工作方式，适用于材料科学金属和合金分析、聚合物研究；电子行业半导体制造、光学元件检测；教育与研究。

光学系统：无限远

金相显微镜

TZ660D全高清4K视频同轴光显微镜

TZ660D同轴光显微镜采用全高清4K复消色差连续变倍光学镜头，消除了色差和球差，在整个视场内都能获得高对比度、高分辨率的图像。适用于彩色成像和高灵敏度单色成像，复消色差连续变倍镜头搭配高清4K 830万像素相机60FPS输出帧率，HDMI2.0、USB3.0、USB2.0、千兆网多种输出方式，可测量拍照录像等图片分析。适用于晶圆、芯片表面电路和缺陷检测；金属、玻璃表面的划痕、瑕疵检查；PCB焊盘和线路检查；材料科学表面结构分析。

光学系统：无限远

金相显微镜

DMS1000系列3D超景深数码显微系统

3D超景深数码显微镜DMS1000是一款集电动化、数码化、智能化为一体，拥有全方位的观测角度和多种照明方式，其更大的景深、更宽的视野以及更高的放大倍率，让表面微观形貌观察和分析工作更快捷方便，搭载自主研发的图像处理算法，能够轻松应对各种观测应用场景，确保图像的清晰度和量测数据的准确性。

光学系统：无限远

金相显微镜

VM2400I编码型三目倒置金相显微镜

三目倒置编码金相显微镜VM2400I配置长距明场平场消色差物镜与大视野平场目镜，照明系统采用LED照明方式，视场照明均匀。主要用于鉴定和分析金属内部结构组织，或用于观察材料表面的某些特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等，简单便于理解操作。应用在工厂、实验室和教学及科学领域，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。可观察5公斤以下不规则样品或者大体积高度样品，可选配数码相机成像、可与金相分析软件配合根据试样特性国标出金相分析报告。

光学系统：无限远

金相显微镜

TZF650DA视频连续变倍同轴光显微镜

TZF650DA视频连续变倍同轴光显微镜采用平行光路光学系统，使用点光源以确保光线的平行性，平行光路配合APO物镜有助于获得清晰的显微图像。搭配高清4K830万像素相机60FPS输出帧率，HDMI2.0、USB3.0、USB2.0、千兆网多种输出方式，可测量拍照录像等图片分析。设备小巧便捷可以根据现场要求定制不同的观测工作方式，适用于材料科学金属和合金分析、聚合物研究；电子行业半导体制造、光学元件检测；教育与研究。

光学系统：无限远

金相显微镜

TZF650D视频连续变倍同轴光显微镜

TZF650D视频连续变倍同轴光显微镜采用平行光路光学系统，使用点光源以确保光线的平行性，平行光路配合无限远物镜有助于获得清晰的显微图像。搭配高清4K 830万像素相机60FPS输出帧率，HDMI2.0、USB3.0、USB2.0、千兆网多种输出方式，可测量拍照录像等图片分析。设备小巧便捷可以根据现场要求定制不同的观测工作方式，适用于材料科学金属和合金分析、聚合物研究；电子行业半导体制造、光学元件检测；教育与研究。

光学系统：无限远

金相显微镜

TZ650E视频连续变倍同轴光显微镜

TZ650E视频连续变倍同轴光显微镜采用平行光路光学系统，使用点光源以确保光线的平行性，平行光路配合无限远物镜有助于获得清晰的显微图像。搭配索尼芯片1200万像素相机，USB3.0接电脑输出可测量拍照录像等图片分析（可以根据需求选配HDMI、USB、WiFi、网口输出的相机）。设备小巧便捷可以根据现场要求定制不同的观测工作方式，适用于材料科学金属和合金分析、聚合物研究；电子行业半导体制造、光学元件检测；教育与研究。

光学系统：无限远

金相显微镜

CM120BD-AF研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜

研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节，12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。

光学系统：无限远

金相显微镜

CM120BD研究级12寸大平台半导体检查显微镜

研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。

光学系统：无限远

金相显微镜

TZ650D视频连续变倍同轴光显微镜

TZ650D视频连续变倍同轴光显微镜采用平行光路光学系统，使用点光源以确保光线的平行性，平行光路配合无限远平场物镜有助于获得清晰的显微图像。搭配高清4K 830万像素相机60FPS输出帧率，HDMI2.0、USB3.0、USB2.0、千兆网多种输出方式，可测量拍照录像等图片分析。设备小巧便捷可以根据现场要求定制不同的观测工作方式，适用于材料科学金属和合金分析、聚合物研究；电子行业半导体制造、光学元件检测；教育与研究

光学系统：无限远

金相显微镜

VM3600I科研级三目倒置金相显微镜

科研级三目倒置金相显微镜VM3600I采用优良的无限远半复消色差光学系统60mm多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置，并可选配暗场装置、DIC微分干涉装置实现暗场和微分干涉等特殊观察。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。

光学系统：无限远

金相显微镜

CM80BD研究级材料检测显微镜

研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。

规格见详情

金相显微镜

CM80BD-AF电动研究级材料检测显微镜

电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。

光学系统：无限远

金相显微镜

CM60BD研究级材料检测显微镜

研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。

光学系统：无限远

金相显微镜

CM60BD-AF电动研究级材料检测显微镜

电动研究级材料检测显微镜CM60BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。

规格见详情

金相显微镜

CM40BD研究级材料检测显微镜

研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。

规格见详情

金相显微镜

CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜

电动研究级材料检测显微镜CM40BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。

规格见详情

金相显微镜

VM3500M

科研级三目正置透反射金相显微镜VM3500M采用优质的无限远色差校正光学系统，全新设计的一体化T型机架，全金属高压模铸而成，稳定性强，高倍观察时像面无抖动，确保高倍测量的检测精度。内置明场、偏光观察功能，单颗10W LED暖白光照明图像高亮度、高分辨率、正色还原。适合观察金相试样分析，工业检测电子芯片等样品。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

规格见详情

金相显微镜

VM2500M

三目透反射正置金相显微镜VM2500M配置了透射、落射照明装置，既可以观察金属材料的金相组织结构，也可以观察半透明，甚至不透明的生物标本。采用了无限远长工作距平场消色差金相物镜和大视野目镜，具有成像清晰，视野广阔，操作方便等特点。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

光学系统：无限远

金相显微镜

MX8R

MX8R三目明暗场微分干涉工业检测显微镜配置了落射与透射照明系统、明暗场半复消金相物镜、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，配备了高性能DIC组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕新式表现出来，广泛用于LCD导电粒子，精密磁盘表面划痕检测等领域

光学系统：无限远

金相显微镜

BJX-2000

BJX-2000现场金相显微镜，适用于大型工件的现场金相检验与失效分析。不用切割取样，直接在工件上研磨制样、观察、照像。对工件尤其是成品件不产生损伤。提高金属检验效率、完善工厂产品质量控制。同时也可用于实验室金相观察。

结构：正置

金相显微镜

BJX-1000

BJX-1000现场金相显微镜，适用于大型工件的现场金相检验与失效分析。不用切割取样，直接在工件上研磨制样、观察、照像。对工件尤其是成品件不产生损伤。提高金属检验效率、完善工厂产品质量控制。同时也可用于实验室金相观察。本仪器可选购配置CCD相机、WIFI无线相机、电子目镜、金相软件，可方便采集、保存、输入现场的图像进行分析研究。

规格见详情

从应用需求出发

不确定选哪款？先聊聊您的样品与观察需求。

告诉我们样品材质、观察或测量目的，以及是否需要拍照，便于核对适合的仪器和配置。

咨询选型需求